可测试性设计

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可测试性设计英语Design for Testability, DFT)是一种集成电路设计技术,它将一些特殊结构在设计阶段植入电路,以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易,这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构,例如扫描链等,内部信号可以暴露给电路外部。总之,在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度,看似增加了成本,但是往往能够在测试阶段节约更多的时间和金钱。

参考文献[编辑]

延伸阅读[编辑]

  • Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu and Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Morgan Kaufmann. ISBN 978-0123705976. 

相关条目[编辑]