掃描探針顯微鏡

维基百科,自由的百科全书
跳转至: 导航搜索

掃描探針顯微鏡Scanning probe microscopySPM)是所有機械式地用探針樣本上掃描移動以探測樣本影像顯微鏡的统称。其影像解析度主要取決於探針的大小〔通常在奈米的範圍〕。掃描隧道顯微鏡是第一個被發明的掃描探針顯微鏡〔1981年〕。

種類[编辑]

AFM, 原子力顯微鏡
  • 接觸式
  • 非接觸式
  • 動態接觸式
EFM, 靜電力顯微鏡
KPFM,開爾文探針力顯微鏡
MFM,磁力顯微鏡
MRFM, 磁共振力顯微鏡
NSOM, 近場光學掃描顯微鏡;SNOM,掃描近場光學顯微鏡
PSTM,光子掃描隧道顯微鏡
SCM,電容掃描顯微鏡
SGM, 門掃描顯微鏡
SThM, 熱掃描顯微鏡
STM, 掃描隧道顯微鏡
SVM, 掃描電壓顯微鏡

廠商[编辑]

參考資料[编辑]