角分辨光電子能譜學

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角分辨光電子能譜學的實驗過程[1].

角分辨光電子能譜學 (Angle resolved photoemission spectroscopy,ARPES),是一種直接觀測某固體裡電子結構的方法,通常是利用極高的能量光子,照射某固體,並且觀察電子散射,就可以知道某固體裡的電子結構,這種技術對固態物理有很大的幫助。由於這種技術可以顯示其準確度極高,曾今被喻為:一個可以看見電子結構的顯微鏡。(a microscope for where and how the electrons move)[2]而到了今天,角分辨光電子能譜學仍是觀察電子結構的最佳利器。

原理[编辑]

能量守恒:

 E = h  \nu + E(\mathbf k) - \phi

动量守恒:

 \hbar k_{i\parallel}=\hbar k_{f\parallel}=\sqrt{2m E_f}\sin\theta

参考文献[编辑]

  • Campuzano J C, Norman M R and Randeria M 2004 Photoemission in the High Tc Superconductors vol II, pp 167–265 (Berlin: Springer)
  • Shen, Z.-X. and Dessau, D. S., Phys. Rep. 253, 1 (1995).


外部链接[编辑]