角分辨光電子譜
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角分辨光電子譜 （Angle resolved photoemission spectroscopy，ARPES），是一種直接觀測某固體裡電子結構的方法，通常是利用極高的能量的光子，照射某固體，並且觀察電子的散射，就可以知道某固體裡的電子結構，這種技術對固態物理有很大的幫助。由於這種技術可以顯示其準確度極高，曾今被喻為：一個可以看見電子結構的顯微鏡。(a microscope for where and how the electrons move)[2]而到了今天，角分辨光電子譜仍是觀察電子結構的最佳利器。
参考文献 [编辑]
- Campuzano J C, Norman M R and Randeria M 2004 Photoemission in the High Tc Superconductors vol II, pp 167–265 (Berlin: Springer)
- Shen, Z.-X. and Dessau, D. S., Phys. Rep. 253, 1 (1995).
外部链接 [编辑]
- ARPES laboratory at Stanford
- ARPES at the Boston College
- Campuzano ARPES group
- ARPES on complex systems at the UBC Vancouver
- Lanzara research group
- Dessau research group
- Leibniz Institute ARPES research in Dresden
- Brookhaven Laboratory
- Tohoku University ARPES group
- University of Tokyo, Fujimori group
- Amsterdam University
- PSI Beamline
- Xingjiang Zhou group
