自动光学检查

自动光学检查（英语：Automated Optical Inspection，简称AOI），为高速高精度光学影像检测系统，运用机器视觉做为检测标准技术，作为改良传统上以人力使用光学仪器进行检测的缺点，应用层面包括从高科技产业之研发、制造品管，以至国防、民生、医疗、环保、电力…等领域。

自动光学检查是工业制程中常见的代表性手法，利用光学仪器取得成品的表面状态，再以电脑影像处理技术来检出异物或图案异常等瑕疵，因为是非接触式检查，所以可在中间工程检查半成品。高精度光学影像检测系统，包含量测镜头技术、光学照明技术、定位量测技术、电子电路测试技术、影像处理技术及自动化技术应用等领域，其开发应用不但符合高科技产业发展需求，其技术层面更可扩展至国防军事工业，举凡兵工武器制造、夜视作战系统、战略地形形貌之分析与研判等，都与此影像技术息息相关。

基本架构[编辑]

自动光学检测设备组成部位：

光学部分：
- CCD Camera（检测镜头）──
- 光源（上下光源打光）──
- Review Camera（复检确认镜头）──

系统主机部分（由个人电脑与周边组成）：
- CIM系统主机──
- 系统主机萤幕──
- 瑕疵检查主机──
- 瑕疵检查主机萤幕──

网路连结
- 集线器（Hub）──
- Network──乙太网路、CC-Link

动力控制部分
- 伺服驱动机构
- 可程式逻辑控制器（PLC）或PC Base控制主机

应用[编辑]

AOI技术领域非常广泛，广义的AOI为结合光学感测系统、讯号处理系统及分析软体，应用层面可包括宇宙探测、航空、卫星遥测、生物医学、工业生产品质检测、指纹比对、机器人控制、多媒体技术。

狭义的AOI则指目前大量应用工业自动化的LCD/TFT、电晶体与PCB工业制程上的光学检测设备，以及在IC及一般电子业、机械工具/自动化机械、电机/电子工业、金属钢铁业、食品加工/包装业、纺织皮革工业、汽车工业、建筑材料、保全/监视等的自动光学结合影像处理的系统。

发展趋势[编辑]

技术规格

完整行程须在60 秒内（甚至更短）
错误判断发生率的降低（避免操作人员的重复检查）
尽可能的减少稼动损失（例如减少交换被检查单元的时间）
提高模糊比对的功能
影像解析度不断提高
可检测出周边线路（以往只需要检测面板内部）
可储存面板的瑕疵影像
自动分类瑕疵

设备功能

可输出分析表格与图形
可检出Mura（英语：Mura (Japanese term)）瑕疵功能
可处理修补瑕疵功能

参考连结[编辑]

参照[编辑]

参考文献[编辑]

陈茂成，“从国际FPD 产业趋势看国内发展商机与挑战”，工研院IEK 产业情报网，2004 年12 月。
黄仲龙，“提升LCD 设备自制率议题评析”，工研院IEK 产业情报网，2004 年11 月。
五十岚大作，小田切章，久保哲夫， “The Latext Optical Inspection Equipment that influences the Yield of Large-screen, Flat-screen TV Production”, 14th FPD manufacturing technology expo& conference, Tokyo Big Sight, Tower Bldg., Japan, July, 2004.
张钧杰，黄俊尧，郑晃忠，“缺陷检测技术在液晶显示器制造之应用”，科仪新知，25 卷第二期，第23 页至35 页，2003 年10 月。
林道荣，“薄膜电晶体液晶面板自动光学检测设备发展概况”，台湾工银金融电子周报，2004 年06 月。
Jung-Hun Kim, Suk Ahn, Jae Wook Jeon, Jong-Eun Byun, “A highspeed high-resolution vision system for the inspection of TFT LCD”, IEEE International Symposium on Industrial Electronics, Proceedings. ISIE 2001, vol.1, pp101-105, 2001.
黄仲龙，“LCD 设备产业发展概况与发展机会”，机械工业杂志，256 期，2004 年7 月。
K. Nakashima, “Hybrid Inspection System for Color Filter Planes”,Proceedings of IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, Hamamatsu, Japan, Vol. 2, pp. 689-692 ,1994.