輻射計

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這是克魯克斯輻射計的一個模型。受光照時葉片轉動,光強越大則轉動越快,以此定量測量電磁輻射強度。

輻射計,又稱「放射計」,是一種測量電磁輻射輻射通量的裝置。「放射計」這一術語有時特指紅外輻射檢測計,但也可指檢測其它各種波長的電磁輻射的檢測計。

較常見的輻射計是克魯克斯輻射計(1873年由威廉·克魯克斯發明),它是一個內有轉子(帶有顏色深淺不同的葉片)的處在在半真空中的早期模型,在受到照時葉片會轉動。

尼克斯輻射計英語Nichols radiometer(1901年發明)的原理與克魯克斯輻射計不同,這類輻射計更加靈敏。

微波輻射計用於檢測微波波段的電磁輻射。微波輻射計內充有氬氣以使其旋轉。

MEMS(Micro-electromechanical Systems,微機電系統)輻射計,由帕特里克·簡柯維克(Patrick Jankowiak)發明,可以按尼克斯輻射計或克魯克斯輻射計的原理運作,而且可以檢測更寬的波段和粒子能級[1]

參見[編輯]

參考資料[編輯]

  1. ^ [1]頁面存檔備份,存於互聯網檔案館) MEMS Radiometer United States Patent 7,495,199

外部連結[編輯]