ATPG

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自動測試圖樣產生(英語:Automatic test pattern generation, ATPG)系統是一種工具,產生資料給製造出來後的數碼電路作測試使用。

超大型積體電路測試平台,要達到非常高的錯誤涵蓋率是非常困難的工作,因為它的複雜度很高。 針對組合邏輯電路(Combinatorial logic)和序向邏輯電路(Sequential logic)的電路測試,必須要使用不同的 ATPG 方法。

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