微分干涉相差显微镜

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Micrasterias furcata 的DIC显微成像
铌酸锂(LiNbO3)在150倍Nomarski显微镜下观察到激光诱导的光反射损伤

微分干涉相差显微技术(DIC),又称Nomarski干涉相差显微技术Nomarski显微镜,是一种增强对比度来观察未染色的透明的样品的光学显微镜。DIC根据干涉测量获取有关样品光路长度英语Optical path length信息,以查看其他不可见的特征。相对复杂的光学系统产生具有灰色背景的黑色或白色的图像。该图像类似于通过相差显微镜获得的但没有明亮衍射光晕的图像。该技术由波兰物理学家Georges Nomarski英语Georges Nomarski在1952年研发。[1]

DIC通过将偏振光源分离成在样品平面上空间位移(剪切)的两个正交偏振相干部分,并在观察之前重组。复合时两部分的干涉对其光程差(即折射率乘积和几何路径长度)敏感。添加可调节的偏移相位确定在所述样品中的零光程差的干涉,对比度是正比于沿剪切方向的路径长度梯度,得到三维的光密度变化的样本图像,图像强调线条和边缘,但不提供表面上准确的图像。

参考文献[编辑]

  1. ^ Lang, Walter. Nomarski differential interference-contrast microscopy (PDF). ZEISS Information. 1968, 70: 114–120 [31 August 2016]. 

外部链接[编辑]