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态叠加原理

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雙縫實驗裏,從光源傳播出來的相干光子束,照射在一塊刻有兩條狹縫的不透明擋板。在擋板的後面,擺設了攝影膠捲或某種偵測屏,用來紀錄到達的任何位置的光子數據。最右邊黑白相間的條紋,顯示出光子在偵測屏的干涉圖樣。

量子力学裏,态叠加原理(superposition principle)表明,假若一個量子系統的量子態可以是幾種不同量子態中的任意一種,則它們的歸一化線性組合也可以是其量子態。稱這線性組合為「疊加態」。假設組成疊加態的幾種量子態相互正交,則這量子系統處於其中任意量子態的機率是對應權值的絕對值平方[1]: 316ff 。态叠加原理是数学上线性系统叠加原理在量子力学里的一个应用。

數學表述,态叠加原理是薛丁格方程式的解所具有的性質。由於薛丁格方程式是個線性方程式,任意幾個解的線性組合也是解。這些形成線性組合(稱為「疊加態」)的解時常會被設定為相互正交(稱為「基底態」),例如氫原子電子能級態;換句話說,這幾個基底態彼此之間不會出現重疊。這樣,對於疊加態測量任意可觀察量所得到的期望值,是對於每一個基底態測量同樣可觀察量所得到的期望值,乘以疊加態處於對應基底態的機率之後,所有乘積的總和。

更具體地說明,假設對於某量子系統測量可觀察量,而可觀察量的本徵態分別擁有本徵值,則根据薛定谔方程线性关系,疊加態也可以是這量子系統的量子態;其中,分別為疊加態處於本徵態機率幅。假設对這疊加態系統测量可观察量,則測量獲得數值是的機率分別為期望值

舉一個可直接觀察到量子疊加的實例,在雙縫實驗裏,可以觀察到通過兩條狹縫的光子相互干涉,造成了顯示於偵測屏障的明亮條紋和黑暗條紋,這就是雙縫實驗著名的干涉圖樣。

再舉一個案例,在量子運算裏,量子位元是的兩個基底態的線性疊加。這兩個基底態的本徵值分別為

理論

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在數學裏,疊加原理表明,線性方程式的任意幾個解所組成的線性組合也是這方程式的解。由於薛丁格方程式是線性方程式,疊加原理也適用於量子力學,在量子力學裏稱為態疊加原理。假設某量子系統的量子態可以是 ,這些量子態都滿足描述這量子系統物理行為的薛丁格方程式。則這量子系的量子態也可以是它們的線性組合,也滿足同樣的薛丁格方程式;其中,是複值係數,為了歸一化,必須讓

假設為實數,則雖然標記同樣的量子態,他們並無法相互替換。例如,分別標記兩種不同的量子態。但是,都標記同一個量子態。因此可以這樣說,整體的相位因子並不具有物理意義,但相對的相位因子具有重要的物理意義。這種相位因子固定不變的量子疊加稱為「相干量子疊加」。[1]: 317 

電子自旋範例

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設想自旋電子,它擁有兩種相互正交的自旋本徵態,上旋態與下旋態,它們的量子疊加可以用來表示量子位元

其中,分別是複值係數,為了歸一化,必須讓

這是最一般的量子態。係數分別給定電子處於上旋態或下旋態的機率:

總機率應該等於1:

這電子也可能處於這兩個量子態的疊加態:

電子處於上旋態或下旋態的機率分別為

再次注意到總機率應該等於1:

非相對論性自由粒子案例

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描述一個非相對論性自由粒子的含時薛丁格方程式[1]: 331–336 

其中,約化普朗克常數是粒子的波函數是粒子的位置,是時間。

這薛丁格方程式有一個平面波解:

其中,波向量角頻率

代入薛丁格方程,這兩個變數必須遵守關係式

由於粒子存在的機率等於1,波函數必須歸一化,才能夠表達出正確的物理意義。對於一般的自由粒子而言,這不是問題。因為,自由粒子的波函數,在位置或動量方面,都是局部性的。在量子力學裏,一個自由粒子的動量與能量不必須擁有特定的值。自由粒子的波函數可以表示為很多平面波的量子疊加

其中,積分區域-空間。

為了方便計算,只思考一維空間,

其中,振幅是量子疊加的係數函數。

逆反過來,係數函數表示為

其中,是在時間的波函數。

所以,知道在時間的波函數,通過傅立葉變換,可以推導出在任何時間的波函數

物理意义

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我们常说的在量子力学里物质具有波动性,这其实就是态叠加原理的体现。相对于粒子性,波的关键特征就是满足叠加原理。量子态具有叠加性,就表明它所描述的物理系统状态在原则上是可以处于一种多个状态叠加的“混合态”,我们称之为物质具有波动性。而实验观测将会迫使系统退出混合态,进入一个“纯态”。比如单电子双缝干涉实验中,电子通过两条狭缝后会形成干涉条纹,证实了电子的波动性,或者说明电子处在一个叠加态当中。

量子力学认为微观事物的运动和状态均是不确定的,如果将其推广到宏观世界上来,那么各种事物均可以被认为是处在多种可能状态的叠加中。在平行宇宙理论中,一个处在叠加状态的物质可以分裂,不同的状态发生在不同的宇宙之中。

參見

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參考文獻

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  1. ^ 1.0 1.1 1.2 French, Anthony, An Introduction to Quantum Physics, W. W. Norton, Inc., 1978, ISBN 978-0-393-09106-9