磁力顯微鏡:修订间差异
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2011年11月30日 (三) 12:56的版本
磁力显微镜(Magnetic force microscope.MFM)是一种原子力显微镜,通过磁性探针扫描磁性样品,检测探针和磁性样品表面的相互作用以重构样品表面的磁性结构。很多种类的磁性相互作用可以通过磁力显微镜测量,包括磁偶相互作用。磁力显微镜扫描经常使用非接触式的模式。
概述
在磁力显微镜的测量中,样品和探针之间的磁力可表述为[1][2]
其中 是探针的 磁矩 , 是样品表面杂散磁场的磁, µ0 是自由空间的磁导率 of free space.
- ^ D.A. Bonnell, Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy. 7. 2. Wiley-VCH. 2000. ISBN 047124824X. 缺少或
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为空 (帮助) - ^ D. Jiles. 15. Introduction to Magnetism and Magnetic Materials 2. Springer. 1998. ISBN 3540401865.