File:Kelvin probe force microscopy.svg

頁面內容不支援其他語言。
這個檔案來自維基共享資源
維基百科，自由的百科全書

原始檔案 ‎（SVG 檔案，表面大小：860 × 470 像素，檔案大小：83 KB）

摘要

描述 In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height while an AC+DC potential is applied. The AC signal is a sinusoid whose frequency matches the mechanical resonance of the cantilever. The cantilever is driven into oscillation by electrostatic forces where the DC potential difference between the surface and the cantilever is non-zero. Using a four-quadrant detector and an A/D to detect cantilever motion, the feedback circuit drives the DC signal to the surface potential, minimizing cantilever motion and resulting in a map of the work function of the surface.
日期 March 1, 2008 (UTC+0100)
來源 自己的作品
作者 Inkwina (對話 · 貢獻)
其他版本

Derivative works of this file:  Kelvin probe force microscopy DE.svg

Image:Kpfm.png
 
本向量圖形使用Inkscape創作 .

Credit

Based on Image:Kpfm.png drawn by Alison Chaiken using the xfig program. Originally uploaded as w:Kpfm.png.

授權條款

我，本作品的著作權持有者，決定用以下授權條款發佈本作品：
GNU head 已授權您依據自由軟體基金會發行的無固定段落、封面文字和封底文字GNU自由文件授權條款1.2版或任意後續版本，對本檔進行複製、傳播和／或修改。該協議的副本列在GNU自由文件授權條款中。
w:zh:共享創意
姓名標示 相同方式分享
This file is licensed under the Creative Commons Attribution-Share Alike 4.0 International, 3.0 Unported, 2.5 Generic, 2.0 Generic and 1.0 Generic license.
您可以自由：
  • 分享 – 複製、發佈和傳播本作品
  • 重新修改 – 創作演繹作品
惟需遵照下列條件：
  • 姓名標示 – 您必須指名出正確的製作者，和提供授權條款的連結，以及表示是否有對內容上做出變更。您可以用任何合理的方式來行動，但不得以任何方式表明授權條款是對您許可或是由您所使用。
  • 相同方式分享 – 如果您利用本素材進行再混合、轉換或創作，您必須基於如同原先的相同或兼容的條款，來分布您的貢獻成品。
您可以選擇您需要的授權條款。

說明

添加單行說明來描述出檔案所代表的內容

在此檔案描寫的項目

描繪內容

創作作者 Chinese (Hong Kong) (已轉換拼寫)

沒有維基數據項目的某些值

作者姓名字串 繁體中文 (已轉換拼寫)：​Inkwina
維基媒體使用者名稱 繁體中文 (已轉換拼寫)：​Inkwina
網址：​http://commons.wikimedia.org/wiki/User:Inkwina

著作權狀態 繁體中文 (已轉換拼寫)

有著作權 繁體中文 (已轉換拼寫)

特許條款

創用CC姓名標示-相同方式分享1.0通用版 繁體中文 (已轉換拼寫)

共享創意署名-相同方式共享2.0通用版 Chinese (Hong Kong) (已轉換拼寫)

GNU自由文檔許可證1.2或更高版本 繁體中文 (已轉換拼寫)

共享創意署名-相同方式共享2.5通用版 Chinese (Hong Kong) (已轉換拼寫)

共享創意署名-相同方式共享4.0國際 Chinese (Hong Kong) (已轉換拼寫)

共享創意署名-相同方式共享3.0Unported Chinese (Hong Kong) (已轉換拼寫)

檔案來源 Chinese (Taiwan) (已轉換拼寫)

上傳者的原創作品 繁體中文 (已轉換拼寫)

檔案歷史

點選日期/時間以檢視該時間的檔案版本。

日期/時間縮⁠圖尺寸用戶備⁠註
目前2008年3月1日 (六) 16:53於 2008年3月1日 (六) 16:53 版本的縮圖860 × 470（83 KB）InkwinaFixed SVG
2008年3月1日 (六) 16:21於 2008年3月1日 (六) 16:21 版本的縮圖860 × 470（84 KB）Inkwina{{Information |Description=In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height while an AC+DC potential is applied. The AC signal is a sinu

下列頁面有用到此檔案：

全域檔案使用狀況

以下其他 wiki 使用了這個檔案：

取自 "https://zh.wikipedia.org/wiki/File:Kelvin_probe_force_microscopy.svg"