標準測試資料格式

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標準測試資料格式(Standard Test Data Format)簡稱STDF泰瑞达公司首创,是一种通用的、适用于ATE行业使用的芯片测试结果记录格式。

STDF记录结构[编辑]

本节由以下内容构成:

  • STDF记录头
  • 记录类型和子类型
  • 数据类型码和表示
  • 可选字段和丢失/无效数据

STDF记录头[编辑]

每个STDF记录从记录头部分开始,记录头中包含以下三个字段:

  • REC_LEN:跟在记录头之后的数据的字节长度,它不包含4字节的记录头本身长度。
  • REC_TYP:标记一组相关STDF记录类型的整形数。
  • REC_SUB:在每个REC_TYP组中标记一个特定STDF记录类型的整形数。

记录类型和子类型[编辑]

每个STDF记录的头部都包含一对字段:REC_TYP和REC_SUB。每个REC_TYP用来标记一组相关的STDF记录配型。每个REC_SUB用来唯一标记每个记录类型。这样设计允许数据分析程序轻松识别相关记录组,同时为文件中的每种类型的记录提供唯一标识。

所有小于 200 的 REC_TYP 和 REC_SUB 代码都保留供泰瑞达将来使用。 所有大于 200 的代码均可用于自定义应用程序。 代码都是十进制值。 其使用的官方代码和文档列表由泰瑞达半导体 CIM 部门 (SCD) 维护。