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全內反射螢光顯微鏡

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(Cis-)全內反射螢光顯微鏡 (TIRFM) 圖
  1. 樣品
  2. 損耗波範圍
  3. 蓋玻片
  4. 浸油
  5. 物镜
  6. 發射光束(信號)
  7. 激發光束

全内反射荧光显微镜total internal reflection fluorescent microscope,TIRFM),利用光線全反射後在介質另一面產生衰逝波的特性,激發荧光分子以觀察螢光標定樣品的極薄區域,觀測的動態範圍通常在200nm以下。因為激發光呈指數衰減的特性,只有極靠近全反射面的樣本區域會產生螢光反射,大大降低了背景光雜訊干擾觀測標的,故此項技術廣泛應用於細胞表面物質的動態觀察。