偏振測量
外觀
偏振測量是一種測量並呈現橫波偏振的方法,尤其是用於電磁波。典型的偏振測量是通過分析目標材料所透過、反射、折射乃至衍射的電磁波來描述該物體的種種特性。[1][2]
應用
[編輯]橢圓偏振技術,常用於薄膜或平面的偏振測量。
相關條目
[編輯]參考
[編輯]- ^ Mishchenko, M.I.; Yatskiv, Y.S.; Rosenbush, V.K.; Videen, G. (Eds.) (編). Polarimetric Detection, Characterization and Remote Sensing, Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Special Detection Technique (Polarimetry) and Remote Sensing Yalta, Ukraine 20 September - 1 October 2010, Series: NATO Science for Peace and Security Series C: Environmental Security 1st Edition. 2011 [2013-08-02]. (原始內容存檔於2019-12-12).
- ^ Jaap Tinbergen Jaap Tinbergen. Astronomical Polarimetry. Cambridge University Press. 2007. ISBN 0-521-01858-7.
這是一篇與科技相關的小作品。您可以透過編輯或修訂擴充其內容。 |