被測器件

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被測器件(英語:device under testDUT)或被測裝置,又稱在測單元被測部件(unit under test,UUT),常用於表示正處於測試階段的工業產品。

半導體測試[編輯]

在半導體測試中,DUT表示晶圓或最終封裝部件上的特定管芯小片。利用連接系統將封裝部件連接到手動自動測試設備(ATE),ATE會為其施加電源,提供模擬信號,然後測量和估計器件得到的輸出,以這種方式測定特定被測器件的好壞。

對於晶圓來說,使用者需要將ATE用一組顯微針連接到一個個獨立的DUT(晶圓小片)。若晶圓已被切割成小片並封裝,我們可以用ZIF插座(零插拔力插座)將ATE連接到DUT(管殼)上。

常規電子測試[編輯]

更多的情況下,DUT用於表示任何被測電子裝置。例如,裝配線下線的手機中的每一晶片都會被測試,而手機整機會以同樣的方式進行最終的測試,這裡的每一部手機都可以被稱作DUT。

DUT常以測試針組成的針床測試台連接到ATE。

參見[編輯]