輻射計
外觀
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輻射計,又稱「放射計」,是一種測量電磁輻射的輻射通量的裝置。「放射計」這一術語有時特指紅外輻射檢測計,但也可指檢測其它各種波長的電磁輻射的檢測計。
較常見的輻射計是克魯克斯輻射計(1873年由威廉·克魯克斯發明),它是一個內有轉子(帶有顏色深淺不同的葉片)的處在在半真空中的早期模型,在受到光照時葉片會轉動。
尼克斯輻射計(1901年發明)的原理與克魯克斯輻射計不同,這類輻射計更加靈敏。
微波輻射計用於檢測微波波段的電磁輻射。微波輻射計內充有氬氣以使其旋轉。
MEMS(Micro-electromechanical Systems,微機電系統)輻射計,由派屈克·簡柯維克(Patrick Jankowiak)發明,可以按尼克斯輻射計或克魯克斯輻射計的原理運作,而且可以檢測更寬的波段和粒子的能級。[1]
參見
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[編輯]外部連結
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