内建自测试

维基百科,自由的百科全书
跳转至: 导航搜索

内建自测试英语built-in self-test, BIST)是可测试性设计的一种实现技术。

参考文献[编辑]

  • Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu and Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Morgan Kaufmann. ISBN 978-0123705976. 

相关条目[编辑]