本页使用了标题或全文手工转换

ATPG

维基百科,自由的百科全书
跳转至: 导航搜索

自動測試圖樣產生英语Automatic test pattern generation, ATPG)系統是一種工具,產生資料給製造出來後的数字电路作測試使用。

超大型積體電路测试平台,要達到非常高的錯誤涵蓋率en:Fault coverage)是非常困難的工作,因為它的複雜度很高。 針對组合逻辑电路(Combinatorial logic)和时序逻辑电路(Sequential logic)的電路測試,必須要使用不同的 ATPG 方法。


参见[编辑]