自動測試圖樣產生(Automatic test pattern generation, ATPG) 系統是一種工具，產生資料給製造出來後的数字电路作測試使用。
測試超大型積體電路，要達到非常高的錯誤涵蓋率（en:Fault coverage）是非常困難的工作，因為它的複雜度很高。 針對組合邏輯（Combinatorial logic）和循序邏輯（Sequential logic）的電路測試，必須要使用不同的 ATPG 方法。
