在古典電磁學裏,當給電介質施加一個電場時,由於電介質內部正負電荷的相對位移,會產生電偶極子,這現象稱為電極化(英語:electric polarization)。施加的電場可能是外電場,也可能是嵌入電介質內部的自由電荷所產生的電場。因為電極化而產生的電偶極子稱為「感應電偶極子」,其電偶極矩稱為「感應電偶極矩」。
電極化強度(英語:polarization density),又稱為電極化向量,定義為電介質內的電偶極矩密度,也就是單位體積的電偶極矩。這定義所指的電偶極矩包括永久電偶極矩和感應電偶極矩。它的國際單位制度量單位是庫侖每平方公尺(coulomb/m2),表示為向量 P。[1]
電極化強度 P 定義為介電質單位體積 V 內的電偶極矩 p 的平均值:[2]
可以理解為在材料區域內電雙級的強度和對齊程度。這個定義很容易推廣到解析定義,即電極化就是電偶極矩微元 dp 與體積微元 dV 的比值:
這反過來便能導出電極化的物體的電偶極矩的一般表現式:
這表明 P-場與磁化強度 M-場是完全類似的:
對於由一個外加電場引起的 P 值的計算,必須已知介電質的電極化率 χ(見下文)。
束縛電荷是束縛於電介質內部某微觀區域的電荷。這微觀區域指的是像原子或分子一類的區域。自由電荷是不束縛於電介質內部某微觀區域的電荷。電極化會稍微改變物質內部的束縛電荷的位置,雖然這束縛電荷仍舊束縛於原先的微觀區域,但這會形成一種不同的電荷密度,稱為「束縛電荷密度」:
- 。
注意剛才研究的是電偶極子中伸出界面的那部分,原微觀區域的束縛電荷符號相反,故有負號。[需要解釋]
總電荷密度是「自由電荷密度」與束縛電荷密度的總和:
- 。
在電介質的表面,束縛電荷以表面電荷的形式存在,其表面密度稱為「面束縛電荷密度」:
- ;
其中,是從電介質表面往外指的法向量。假若,電介質內部的電極化強度是均勻的,是個常數向量,則等於0,這電介質所有的束縛電荷都是面束縛電荷。
假設電極化強度含時間,則束縛電荷密度也含時間,因而產生了「電極化電流密度」 (A/m2):
- 。
那麼,電介質的總電流密度是
- ;
其中,是「自由電流密度」,是「束縛電流密度」,是磁化強度。
「自由電流」是由外處進來的電流,不是由電介質的束縛電荷所構成的電流。「束縛電流」是由電介質束縛電荷產生的磁偶極子所構成的電流,一個原子尺寸的現象。
電極化強度、電場、電位移,這三個向量的關係式為一個定義式[3]:
- ;
其中,是電常數。
對於各向同性、線性電介質,電極化強度和電場的比例是電極化率[4]:
- 。
所以,電位移與電場成正比:
- ;
其中,是電容率。
電極化強度、電場、電位移,這三個向量的方向都一樣。另外,
- 。
假設這電介質具有均勻性,則電容率是常數:
- 。
對於各向異性、線性電介質,電極化強度和電場的方向不一定一樣。電極化強度的第個分量與電場的第個分量的關係式為
- ;
其中,是電介質的電極化率張量。例如,晶體光學(crystal optics)就會研究到很多各向異性電介質晶體。
電磁學所講述的物理量大多都是巨觀的平均值,像電場平均值、偶極子密度平均值、電極化強度平均值等等,都是取於一個超大於原子尺寸的區域。只有這樣,科學家才能夠研究一個電介質的連續近似。而當研究微觀問題時,對於在電介質內的單獨粒子,其極化性跟電極化率平均值、電極化強度平均值的關係,可以用克勞修斯-莫索提方程式來表達。
假若電極化強度和電場不呈線性正比,則稱這電介質為非線性電介質。非線性光學可以用來描述這種電介質的性質。假設電場足夠地微弱,不存在任何永久電偶極子,則電極化強度可以令人相當滿意地以泰勒級數近似為
- ;
其中,是線性電極化率,給出波克斯效應(Pockels effect),給出克爾效應(Kerr effect)。
對於鐵電材料,因為遲滯現象,與之間,不存在一一對應關係。
- ^ McGraw Hill Encyclopaedia of Physics (2nd Edition), C.B. Parker, 1994, ISBN 0-07-051400-3
- ^ Electromagnetism (2nd Edition), I.S. Grant, W.R. Phillips, Manchester Physics, John Wiley & Sons, 2008, ISBN 978-0-471-92712-9
- ^ Griffiths, David J., Introduction to Electrodynamics (3rd ed.), Prentice Hall: pp. 175, 179–184, 1998, ISBN 0-13-805326-X
- ^ Jackson, John David, Classical Electrodynamic 3rd., USA: John Wiley & Sons, Inc.: pp. 151–154, 1999, ISBN 978-0-471-30932-1